本发明涉及贵金属制品检测，更具体地说是一种贵金属制品的快速检测方法。
背景技术：
目前，在贵金属检测领域，x射线荧光光谱仪是一种用于检验贵金属制品纯度的常规检测仪器，具有快速筛选的特点，但一般的x射线荧光光谱仪对于贵金属制品的检测只局限于表层(x射线对金的探测深度仅约10μm，对银的探测深度仅约50μm)，无法对贵金属制品的内部情况进行检测；市面上存在贵金属内部掺杂造假的情况，仅通过x射线荧光光谱分析贵金属制品表面，极易出现误判，检测不准确的情况；现在也有采用密度综合法来检测贵金属，但存在成本高、耗时长、局限性较大等问题，对于通过配重以及掺杂密度相近金属造假的贵金属制品，则无法检测出来。
因此，有必要设计一种能够无损、快速、准确、便捷的检测贵金属制品的检测方法。
技术实现要素：
本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种贵金属制品的快速检测方法。
为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：一种贵金属制品的快速检测方法，包括以下步骤：
s10、设定x射线荧光光谱仪的工作条件，将被测样品置于x射线荧光光谱仪的检测台上，检测被测样品表层的主要成分及成分含量；
s20、将被测样品表层多个检测点测得的被测样品数据取平均值与被测样品的标称值数据进行比较，若满足标准值下限要求，则进行下一步检测，否则，停止检测，判断被测样品不合格；
s30、用量尺测出被测样品测试点处两相对表面的厚度值d1；
s50、将d1与d2进行对比，若符合|d2/d1-1|*100％≤5％，则被测样合格，否则，被测样品不合格。
其进一步技术方案为：所述步骤s10之前还包括用无水乙醇擦洗被测样品的测试表面。
其进一步技术方案为：所述s10步骤中，选择锰元素在5.89kev能量位置的峰，分辨率优于170ev的x射线荧光光谱仪。
其进一步技术方案为：所述步骤s20中，所述检测点包括三个以上检测点，其中，相邻两个检测点之间的直线距离为10mm以上。
其进一步技术方案为：所述步骤s30中，所述量尺为游标卡尺。
其进一步技术方案为：所述游标卡尺的最小分度值为0.01mm～0.02mm。
其进一步技术方案为：所述步骤s40中，超声波测厚仪检测的被测样品测试点与量尺所测的被测样品测试点的位置相同。
其进一步技术方案为：所述步骤s40具体包括以下子步骤：
s41：选择范围/分辨率为0.6-508mm/0.01mm，误差为±0.3％d+0.03mm，声速为500-9999m/s的超声波测厚仪；
s42：校准超声波测厚仪；
s43：将耦合剂涂覆于被测样品测试点和/或超声波测厚仪的探头；
s44：将探头贴紧与被测样品测试点，调节超声波测厚仪工作参数，以得到稳定的厚度值d2。
本发明与现有技术相比的有益效果是：本发明一种贵金属制品的快速检测方法采用了x射线荧光光谱仪检测被测样品表面主要成分及成分含量，可以初步判断被样品是否合格，采用超声波测厚仪对被测样品内部情况进行进一步的检测，提高了检测的准确性，另外，通过x射线荧光光谱仪和超声波测厚仪两者结合对被测样品进行检测，不会破坏测试样品，实现无损检测，对被测样品的条件限制较少，步骤简便，更能快速、方便的检测，对于大型检验中心在检验任务较多的情况下，可大大提高工作效率，减低成本。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征及优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
附图说明
图1为本发明一种贵金属制品的快速检测方法具体实施例的流程图；
图2为本发明一种贵金属制品的快速检测方法具体实施例中步骤s40的子步骤流程图；
图3为实施例一的银块主要成分及成分含量的数据表格；
图4为实施例一的游标卡尺测量银块厚度值d1的数据表格。
具体实施方式
为了更充分理解本发明的技术内容，下面结合具体实施例对本发明的技术方案进一步介绍和说明，但不局限于此。
如图1-2所示，本发明一种贵金属制品的快速检测方法，包括以下步骤：
s30、用量尺测出被测样品测试点的厚度值d1；
进一步的，步骤s10之前还包括用无水乙醇擦洗被测样品的测试表面，去除油污。
进一步的，s10步骤中，选择锰元素在5.89kev能量位置的峰，分辨率优于170ev的x射线荧光光谱仪。
进一步的，步骤s20中，检测点包括三个以上检测点，其中，相邻两个检测点之间的直线距离为10mm以上。；从具有代表性的不同点取得的数据综合分析得出的结果更为准确。
进一步的，步骤s30中，量尺为游标卡尺或者千分尺；游标卡尺的最小分度值为0.01mm～0.02mm，优选为0.01mm。
进一步的，步骤s40中，超声波测厚仪检测的被测样品测试点与量尺所测的被测样品测试点的位置相同。
步骤s40具体包括以下子步骤：
具体的，本实施例一采用一种贵金属制品的快速检测方法检测足银999的具体方法：
第一步：用无水乙醇擦洗银块表面，去除油污；
第二步：选择锰元素在5.89kev能量位置的峰，分辨率优于170ev的x射线荧光光谱仪，将银块放置在x射线荧光光谱仪的检测台上，合上检测舱盖，选择银系列工作曲线；选取银块上3个不同位置进行检测，得到的结果取平均值，请参考图3所示的测试数据，测试结果银含量为999.5‰，符合足银999中银含量标称值的范围，初步检测银块合格；
第三步：选择最小分度值为0.02mm的游标卡尺，在银块上选择表面较光滑，相对的两表面平形或同轴的测试点，用酒精擦拭测试点表面油污，用游标卡尺测量测试点两相对表面的距离，即厚度值d1；请参考图4所示的测试数据，对同一个测试点重复测试三次，取平均值结果为d1＝2.62mm；
第四步：选择范围/分辨率为1.5-150mm/0.01mm，误差为±0.3％d+0.03mm，声速为1000-9999m/s的超声波测厚仪，开启超声波测厚仪，利用超声波测厚仪自带的4.00mm不锈钢片进行零点校准，涂覆耦合剂在钢片上，点击“校准”按钮，将探头贴在涂有耦合剂的钢片表面，确保贴近，等待仪器自动校准完成；
第五步：超声波测厚仪内置有声波在金、银、铂和钯4种类型的贵金属的传播速度，本次检测中，选择“银”类型，设置厚度值为2.6mm，将耦合剂涂覆在银块测试点，将探头贴紧样品表面，待显示屏上的读数稳定，读取厚度值d2＝2.64mm；
第六步：d1＝2.62mm，d2＝2.64mm，符合|d2/d1-1|*100％≤5％说明银块表面与内部均匀，不存在缺陷和夹杂，判定此银块整体满足足银999成色的要求。
于其它实施例中，选择锰元素在5.89kev能量位置的峰，分辨率优于170ev的x射线荧光光谱仪，范围/分辨率为0.6-508mm/0.01mm，误差为±0.3％d+0.03mm，声速为500-9999m/s的超声波测厚仪，最小分度值为0.02mm的游标卡尺进行检测。
于其它实施例中，采用丙酮等常用去除油污的有机溶剂擦洗被测样品的测试表面。
综合上述：本发明一种贵金属制品的快速检测方法采用了x射线荧光光谱仪检测被测样品表面主要成分及成分含量，可以初步判断被样品是否合格，采用超声波测厚仪对被测样品内部情况进行进一步的检测，提高了检测的准确性，另外，通过x射线荧光光谱仪和超声波测厚仪两者结合对被测样品进行检测，不会破坏测试样品，实现无损检测，对被测样品的条件限制较少，步骤简便，更能快速、方便的检测，对于大型检验中心在检验任务较多的情况下，可大大提高工作效率，减低成本。
上述仅以实施例来进一步说明本发明的技术内容，以便于读者更容易理解，但不代表本发明的实施方式仅限于此，任何依本发明所做的技术延伸或再创造，均受本发明的保护。本发明的保护范围以权利要求书为准。