听别人多，看自己少。用户在设备选型时经常会开展一些调研考察，一方面了解一些各种仪器及厂家的基本情况，作一些相互比较；另一方面会去一些与自己情况类似的用户那里考察。这当然是必要的。但最重要的还是要根据自己的实际情况和具体需求来选择。比如：以全厂质量控制为主要目的，样品种类多，需要做全分析，准确度要
根据分光方式的不同，X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也X射线荧光分析就是通常所说的能谱仪和波谱仪，缩写为EDXRF和WDXRF。通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式
1仪器品牌&公司实力这点和购买其他商品一样,我们都会注意到这点,购买XRF我们要看这个品牌是不是在RoHS指令执行期间才冒出来的,大家都知道仪器技术都是要靠积累和沉淀的,还有大家关心的是会不会这个公司应为RoHS而生,因为RoHS而亡.如果这个公司赚够钱,突然蒸发了,那用户怎么办,售后服务由谁
XRF分析是一项成熟的技术，利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。用于在整个行业范围内验证成分，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。在测定电子电器产品中是否存在限用物质时，一般采用XRF进行初筛。其基本的无损性质，
XRF理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素（F）到92号元素（U）。
X射线光谱技术因其是一种环保型、非破坏性、分析精度高的分析技术[33],特别是在贵金属产品、饰品无损检测方面有其独特的优势。用XRFA互标法无损检测黄金饰品,对金饰品[w(Au)>96%]的测定绝对误差
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下:λ=K(Zs)2式中K和S是常数。
重价格轻服务。价格当然是选购商品的重要因素，但不应当是决定性因素。分析仪器各部件质量及其价格悬殊极大，并且直接决定了仪器的售价，单纯追求价格便宜，很难保证质量。对于X荧光分析仪这样的设备来说，服务往往更为重要。这里所说的服务不仅指安装调试、备品备件供应、维修服务等，更重要的是应用技术服务。对于大
1895年，德国物理学家伦琴(RoentgenWC)发现了X射线。1896年，法国物理学家乔治(GeorgsS)发现了X射线荧光。1948年，弗利德曼(FriedmanH．)和伯克斯(BirksLS)首先研制了第一台商品性的波长色散X射线荧光(WDXRF)
XRD与XRF的区别：1，用途：XRD：测定晶体的结构，XRF：元素的定性、定量分析。2，原理：XRD的基础是X射线的相干散射，布拉格公式、晶体理论；XRF基于莫斯莱定律，特征X射线为基础的。3，仪器：单色X射线光源，不需要分光晶体。
重硬件轻软件和技术。任何一种分析仪器在某一领域的成功应用都是硬件、软件和分析技术有机结合的结果，三者缺一不可。毫无疑问，硬件是基础，但硬件并不能决定一切。从应用的角度来讲，硬件只有通过软件才能充分发挥作用，而分析技术涉及到仪器应用的每一个环节。一台好仪器，一定是建立在分析技术研究基础之上的，否则
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。2、XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能：精密测量金属电镀层
1、提到XRF，人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—RayFluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样
定性分析不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱
XRF在贵金属行业的应用析稀有及贵重金属（例如Au，Ag，Pt，Rh，Ru，Ir，Pd，Cu，Zn，Ni，Co等）元素常采用XRF技术。因为稀有金属的成分准确定量非常重要，监控生产流程中稀有及贵重金属的成分是为了控制和zui大限度地减少金属的损失，并能够达到常规检查。传统的分析方法例如试金石方法
2011年新起点再创辉煌■2011年1月25日，天瑞仪器在深证创业板块上市。股票代码为300165。■2011年4月25日，天瑞仪器推出SUPERXRF2400，其超微量元素检测的独特功能将传统XRF性能提升数倍。■2011年4月26日，在2011中国
X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。X射线荧光分析仪分为波长色散型（WD-XRF）与能量色散型（ED-XRF）两种。两者虽然同属于X射线荧光分析仪，产生信号的方法相同，后得到的波谱也极为相似，但由于采集数据的方式不同，两者在原理和仪器结构上有
X荧光光谱仪技术原理:X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后
硅漂移探测器（SiliconDriftDetector，简称SDD）是半导体探测器的一种；用来探测X射线，广泛应用在能量色散型X射线荧光光谱仪（XRF）或者X射线能谱仪（EDS）上。XRF合金分析仪使用了大面积的SDD探测器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析数据的稳定性
X射线荧光（XRF）能用于测定周期表中多达83个元素所组成的各种形式和性质的导体或非导体固体材料，其中典型的样品有玻璃、塑料、金属、矿石、耐火材料、水泥和地质物料等。凡是能和X射线发生激烈作用的样品都不能分析，而要分析的样品必须经受在真空（4~5Pa）环境下测定，与其他分析技术相比，XRF具有分
能谱仪结构及工作原理能谱仪,结构,工作原理,特征X射线,X射线探测器X射线能量色散谱分析方法是电子显微技术最基本和一直使用的,具有成分分析功能的方法,通常称为X射线能谱分析法,简称EDS或EDX方法.它是分析电子显微方法中最基本,最可靠,最重要的分析方法,所以一直被广泛使用.1.特征X射线的产生特征
1.做TEM测试时样品的厚度最厚是多少TEM的样品厚度最好小于100nm，太厚了电子束不易透过，分析效果不好。2.请问样品的的穿晶断裂和沿晶断裂在SEM图片上有各有什么明显的特征？在SEM图片中，沿晶断裂可以清楚地看到裂纹是沿着晶界展开，且晶粒晶界明显；穿晶断裂则是裂纹在晶粒中
SEM，EDS，XRD的区别，SEM是扫描电镜，EDS是扫描电镜上配搭的一个用于微区分析成分的配件——能谱仪，是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。XRD是X射线衍射仪，是用于物相分析的检测设备。SEM用于观察标本的表面结构，其工作原理是用一束极细的电子束
原因是形状不均匀，样品对释放出的X光信号还会有吸收的各向异性。扫描电镜中配置的能谱全称为能量色散谱仪（EnergyDispersiveSpectroscopy，EDS），用于检测元素特征X射线能量。