SEMILAB（展位号：4D36）成立于1989年，是一家全球领先的检测设备供应商，拥有先进的电学、光学测试技术，产品被广泛应用于光伏、半导体、平板、LED和科学研究等领域。公司总部位于匈牙利布达佩斯，在美国、中国设有研发与生产中心，在欧洲和亚洲主要国家和地区都设有分支机构。
自2004年以来，Semilab相继收购了一系列公司和光学、电学测试技术，到目前为止已经拥有超过150项专利技术，成长为泛半导体行业领先的测试设备供应商，给客户的产品监控和质量控制提供完整的解决方案。
瑟米莱伯全球分支机构
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FPT测试平台
SEMI测试平台
针对快速发展的微显示技术，Semilab推出了基于半导体工业的晶圆测试平台，可以应用于硅基OLED、MicroLED等显示技术，满足不同尺寸的晶圆及玻璃圆片的在线工艺测试。
用于研发、质控的测试设备
对于平板显示客户的研发和质控部门，Semilab凭借着业界领先的光学、电学测试技术和丰富的应用经验，可以提供一系列光学、电学测试设备和方案，满足客户灵活的测试需求。
·汞探针CV测试仪：
MCV测试仪采用气动控制，通过无损伤和顶部汞接触的探头设计，消除了对贵金属或多晶硅沉积工艺的需求。设备具有极其稳定的接触面积，仅使用少量汞就可以进行高重复性的C-V和I-V测量，广泛用于工艺开发和生产过程监控，是半导体/外延层和介电层表征的卓越技术。
·光谱型椭偏仪：
-非破坏性光学技术，基于测量在非垂直入射时，光在样品表面反射前后偏振状态的变化，来获取样品的厚度、折射率和消光系数等信息。
-即使对于低于5nm的薄膜厚度，也具有高度的灵敏度的技术。
-通用的技术：可测试多层材料的多种物理参数（例如厚度，折射率，吸收系数，孔隙率）。
·拉曼光谱测试仪：
拉曼光谱是一种能够实现实时监测和表征的方法。该方法基于拉曼效应，该效应描述了固体材料晶格振动（声子）所涉及到的弹性散射光。从散射光的能量偏移，强度和偏振状态中，可以获得有关固体本身性质的丰富信息。
·原子力显微镜：
-SemilabAFM设备的紧凑设计保证了出色的稳定性和扫描速率。独特的即插即用悬臂更换确保了仪器的快速和安全操作。
-SemilabAFM平台允许将SemilabAFM探头安装到载物台和其他设施中，如纳米压痕器或光学显微镜。
·纳米压痕测试仪：
纳米压痕是定量测试微量材料力学性能的关键技术。该技术是测量硬质薄膜、多相金属、陶瓷、软膜、半导体、生物材料和塑料等材料的弹性、塑料和粘弹性性能的成熟方法。
·微波光电导衰退测试仪：
·涡流法电阻测试仪：
涡流法电阻测试仪可对薄层电阻进行快速、无损测量，在平板显示行业可以用于ITO等导电薄膜进行在线电阻监控。